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北京有色金属研究总院分析测试中心

有色金属检测和电子材料分析

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X射线双晶衍射摇摆曲线
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产品: 浏览次数:119X射线双晶衍射摇摆曲线 
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最后更新: 2014-09-12 20:26
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国家有色金属及电子材料分析测试中心,针对单晶基片及其完美性分析或点阵失配外延层薄膜(晶体完整性和异质外延结构),通过高分辨X射线衍射测量(X射线双晶衍射摇摆曲线)提供微结构、微成分和微缺陷等方面的大量信息。
国家有色金属及电子材料分析测试中心,是中国权威的第三方金属检测机构,实验室通过ISO 17025国家实验室认可(CNAS),中国计量认证(CMA),国际航空材料认证(NADCAP),为客户提供科学的产品检测、评价方案,满足进出口及工程检测等各种需求。 
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